Descubra os segredos do detector de painel plano de raios-X, um pequeno dispositivo que revolucionou a qualidade da imagem para aplicações industriais. Seja em campos industriais, médicos ou dentários, os detectores de painel plano com tecnologia amorfa de silício tornaram -se o padrão para a CBCT e a imagem panorâmica.
A vantagem da tecnologia amorfa de silício está em sua capacidade de converter imagens de raios-X em imagens visíveis para fornecer saídas eletrônicas para sistemas de raios-X. Essa tecnologia é adequada para fluoroscopia de raios-X e imagem de raios-X, detecção instantânea, amplamente utilizada em produtos eletrônicos, componentes eletrônicos, peças de injeção e outros testes industriais não destrutivos.
Visão geral das especificações técnicas:
Categoria de detector: silício amorfo
Cintilador: CSI Gos
Tamanho da imagem: 160 × 130mm
Matriz de pixel: 1274 × 1024
Passo de pixel: 125μm
Conversão A/D: 16 bits
Sensibilidade: 1.4LSB/NGY, RQA5
Dose linear: 40ugy, rqa5
Função de transferência de modulação @ 0,5lp /mm: 0,60
Função de transferência de modulação @ 1,0 LP/mm: 0,36
Função de transferência de modulação @ 2.0 LP/mm: 0,16
Função de transferência de modulação @ 3,0 LP/mm: 0,08
Imagem residual: 300gy, 60s, %
Esses parâmetros garantem que o detector possa fornecer imagens de alta qualidade em uma variedade de aplicações, seja inspeção industrial ou diagnóstico médico, para atender às necessidades dos usuários.
Horário de postagem: 15-2025 de março