Os detectores de painel plano desempenham um papel crucial na radiografia digital (DR), pois a qualidade da imagem afeta diretamente a precisão e a eficiência do diagnóstico. A qualidade das imagens do detector de painel plano é geralmente medido pela função de transferência de modulação (MTF) e eficiência de conversão quântica (DQE). A seguir, é apresentada uma análise detalhada desses dois indicadores e os fatores que afetam o DQE:
1 、 Função de transferência de modulação (MTF)
A função de transferência de modulação (MTF) é a capacidade de um sistema de reproduzir a faixa de frequência espacial de um objeto fotografado. Reflete a capacidade do sistema de imagem de distinguir detalhes da imagem. O sistema de imagem ideal requer 100% de reprodução dos detalhes do objeto fotografado, mas, na realidade, devido a vários fatores, o valor do MTF é sempre menor que 1. Quanto maior o valor do MTF, mais forte a capacidade do sistema de imagem de reproduzir os detalhes do objeto fotografado. Para sistemas de imagem de raios X digitais, para avaliar sua qualidade de imagem inerente, é necessário calcular o MTF pré-amostrado que não é subjetivamente afetado e inerente ao sistema.
2 、 Eficiência de conversão quântica (DQE)
A eficiência da conversão quântica (DQE) é uma expressão da capacidade de transmissão dos sinais do sistema de imagem e ruído da entrada para a saída, expressa como uma porcentagem. Reflete a sensibilidade, ruído, dose de raios-X e resolução de densidade do detector de painel plano. Quanto maior o valor DQE, mais forte a capacidade do detector de distinguir diferenças na densidade do tecido.
Fatores que afetam o DQE
Casado de material de cintilação: Em detectores de painel plano de silício amorfo, o revestimento do material de cintilação é um dos fatores importantes que afetam o DQE. Existem dois tipos comuns de materiais de revestimento do cintilador: iodeto de césio (CSI) e oxisulfida por gadolínio (Gd ₂ o ₂ s). O iodeto de césio tem uma capacidade mais forte de converter raios-X em luz visível que o oxisulfeto de gadolínio, mas a um custo mais alto. O processamento do iodeto de césio em uma estrutura colunar pode melhorar ainda mais a capacidade de capturar raios-X e reduzir a luz dispersa. O detector revestido com o oxisulfeto de gadolínio tem uma taxa de imagem rápida, desempenho estável e menor custo, mas sua eficiência de conversão não é tão alta quanto a do revestimento de iodeto de cesium.
Transistores: A maneira pela qual a luz visível gerada pelos cintiladores é convertida em sinais elétricos também pode afetar o DQE. Em detectores de painel plano com a estrutura do iodeto de césio (ou oxisulfida por gadolínio)+transistor de filme fino (TFT), a variedade de TFTs pode ser feita tão grande quanto a área do revestimento do cintilador, e a luz visível pode ser projetava em um Relating, sem a realização de lentes, sem perda de fotónio. Nos detectores de painel plana de selênio amorfos, a conversão de raios-X em sinais elétricos depende inteiramente dos pares de orifícios de elétrons gerados pela camada amorfa de selênio, e o nível de DQE depende da capacidade da camada amorfa de selênio de gerar cargas.
Além disso, para o mesmo tipo de detector de painel plano, seu DQE varia em diferentes resoluções espaciais. O DQE extremo é alto, mas não significa que o DQE esteja alto em qualquer resolução espacial. A fórmula de cálculo para DQE é: dqe = s ² × mtf ²/(nps × x × c), onde s é a intensidade média do sinal, o MTF é a função de transferência de modulação, x é a intensidade da exposição a raios-X, o NPS é o espectro de potência do sistema e C é o coficiente de coeficiente de quantum de X-Ray.
3 、 Comparação de silício amorfo e detectores de painel plano de selênio amorfo
Os resultados da medição das organizações internacionais indicam que, em comparação com os detectores de painel plano de silício amorfos, os detectores de painel plano amorfo têm excelentes valores de MTF. À medida que a resolução espacial aumenta, o MTF dos detectores de painel plano de silício amorfo diminui rapidamente, enquanto os detectores de painel plano de selênio amorfo ainda podem manter bons valores de MTF. Isso está intimamente relacionado ao princípio de imagem dos detectores de painel plano de selênio amorfos que convertem diretamente fótons de raios-X invisíveis em sinais elétricos. Os detectores de painel plano de selênio amorfos não produzem ou espalham luz visível; portanto, eles podem obter uma resolução espacial mais alta e melhor qualidade da imagem.
Em resumo, a qualidade da imagem dos detectores de painel plano é afetada por vários fatores, entre os quais MTF e DQE são dois indicadores importantes de medição. Compreender e dominar esses indicadores e os fatores que afetam o DQE pode nos ajudar a selecionar melhor e usar detectores de painel plano, melhorando assim a qualidade da imagem e a precisão diagnóstica.
Hora de postagem: dez-17-2024